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Wafer

Einsatz moderner berührungsloser Messtechnik im Bereich Wafer

sentronics metrology bietet langjährige Erfahrungen im Bereich der hochgenauen, berührungslosen Schichtdicken- und Oberflächenmesstechnik mit weltweit zum Teil einzigartigen Sensoren an. Darauf aufbauend vermarktet sentronics metrology eine Serie von Komplettlösungen.

Beschichtungen/Folien

Einsatz moderner berührungsloser Inline-Messtechnik im Bereich Folien

10 / 2014 - sentronics metrology präsentiert: Die neue Generation der vollautomatischen, Hochgeschwindigkeits-Wafer Mess-Systeme

sentronics metrology hat eine neue Generation der vollautomatisierten Wafer-Inspektionssystem entwickelt und dabei Funktionalität und Design grundlegend überarbeitet und verbessert. Der neue SemDex A kombiniert ein leistungsfähiges Hochgeschwindigkeits-Wafer Mess- und Sortiersystem in einem Gerät. Das "Basis-System" ist komplett modular und kann, abhängig von der gewünschten Messaufgabe, mit unterschiedlichen Sensoren ausgestattet werden.

02 / 2018 - sentronics metrology auf der Semicon China 2018

SEMICON China connects you to the world’s fastest-growing and most dynamic microelectronics market, and gives you the platform to showcase your products, technologies, and brand in front of the most qualified audience of industry professionals in China.

March 14.-16.2018, Shanghai New International Expo Centre
German Pavillon, booth # 2571

 

12 / 2017 - sentronics metrology auf der Semicon Korea 2018

Since SEMICON Korea was launched in 1987, it has been advancing together with Korea semiconductor industry. SEMICON Korea is one of the biggest exhibition in Korean Semiconductor industry.

January 31(Wed) - February 2 (Fri), 2018
COEX, Seoul, Korea, booth # C664

Optische Messtechnik von sentronics metrology GmbH

Als führender Hersteller optischer Messtechnik verfügt die sentronics metrology über fundierte Erfahrung in der Entwicklung innovativer Messgeräte, Sensoren und entsprechender Software. Mit flexibel einsetzbaren optischen Messgeräten unterstützt sentronics metrology Kunden sowohl bei der Inline-Produktionsüberwachung als auch bei der Offline-Inspektion. Dank schnell abtastender und dabei höchst präzise arbeitender Sensoren ist eine zuverlässige und effiziente Qualitätssicherung garantiert. Die Hauptanwendungsgebiete der von sentronics metrology hergestellten optischen Messsysteme umfassen die Schichtdicken- und Rauheitsmessung in Unternehmen der Wafer-, Beschichtungs- und Folienindustrie sowie die 3D-Messtechnik im Bereich der zerspanenden Industrie.  

Mit Blick auf seine technologische Vorreiterposition unter den Anbietern optischer Messverfahren engagiert sich das Unternehmen kontinuierlich in der Weiterentwicklung hochpräziser Sensoren basierend auf optischer Interferometrie.