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Aktuelles

10 / 2014 - sentronics metrology präsentiert: Die neue Generation der vollautomatischen, Hochgeschwindigkeits-Wafer Mess-Systeme

sentronics metrology hat eine neue Generation der vollautomatisierten Wafer-Inspektionssystem entwickelt und dabei Funktionalität und Design grundlegend überarbeitet und verbessert. Der neue SemDex A kombiniert ein leistungsfähiges Hochgeschwindigkeits-Wafer Mess- und Sortiersystem in einem Gerät. Das "Basis-System" ist komplett modular und kann, abhängig von der gewünschten Messaufgabe, mit unterschiedlichen Sensoren ausgestattet werden.

11 / 2012 - sentronics metrology erhält Anerkennung beim Innovationspreis des Landes Baden-Württemberg 2012

sentronics metrology erhält für beispielhafte Leistungen eine Anerkennung im Rahmen des Innovationspreises des LandesBaden-Württemberg – Dr.-Rudolf-Eberle-Preis – 2012. Bereits vor einigen Jahren wurde sentronics metrology für den ersten Hautsensor mit dem Innovationspreis ausgezeichnet.
In diesem Jahr gab es 91 Bewerber aus Baden-Württemberg, die an der Ausschreibung zum Innovationspreis teilgenommen haben. 

07 / 2011 - Neuer Dünnschicht Sensor StraDex t6-60

Mit dem neuen StraDex t6-60 können jetzt auch dünnste Schichten von 0.2 µm aufwärts gemessen werden.

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Veranstaltungen / Messen

02 / 2018 - sentronics metrology auf der Semicon China 2018

SEMICON China connects you to the world’s fastest-growing and most dynamic microelectronics market, and gives you the platform to showcase your products, technologies, and brand in front of the most qualified audience of industry professionals in China.

March 14.-16.2018, Shanghai New International Expo Centre
German Pavillon, booth # 2571

 

12 / 2017 - sentronics metrology auf der Semicon Korea 2018

Since SEMICON Korea was launched in 1987, it has been advancing together with Korea semiconductor industry. SEMICON Korea is one of the biggest exhibition in Korean Semiconductor industry.

January 31(Wed) - February 2 (Fri), 2018
COEX, Seoul, Korea, booth # C664

08 / 2017 - sentronics metrology auf der Semicon Japan

First held in 1977, SEMICON Japan has grown to become one of the largest international exhibition of semiconductor equipment and materials. Bringing companies and their technologies together with customers and partners, as well as providing a setting for technical seminars and meetings, SEMICON Japan actively supports the growth of the global semiconductor industry.

Dec 13-15, 2017
Tokyo Big Sight Tokyo, Japan, booth # 1532

 

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Pressemitteilungen

06 / 2013 - Messtechnik: Innovative Lösungen von sentronics metrology

Vermessung von Bohrungen in mechanischen Komponenten und Schichtdickenbestimmung von Folien mit dem Traversensystem t-Dex.

 

06 / 2013 - Vermessung von Bohrungen und Schichten

sentronics metrology, Anbieter von optischen, kontaktfrei arbeitenden Sensoren und Systemen für die industrielle Messtechnik, stellte auf der Control 2013 das neue Traversensystem T-Dex in den Mittelpunkt seines Messe-Auftritts.

06 / 2013 - Misst Folien von wenigen µm

Solo- und Verbundfolien – lackiert oder beschichtet – lassen sich schnell und genau mit dem neuen Traversensystem t-Dex von sentronics metrology vermessen. Auch Einzelschichtdicken sind damit bestimmbar.

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