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10 / 2014 - sentronics metrology präsentiert: Die neue Generation der vollautomatischen, Hochgeschwindigkeits-Wafer Mess-Systeme

sentronics metrology hat eine neue Generation der vollautomatisierten Wafer-Inspektionssystem entwickelt und dabei Funktionalität und Design grundlegend überarbeitet und verbessert. Der neue SemDex A kombiniert ein leistungsfähiges Hochgeschwindigkeits-Wafer Mess- und Sortiersystem in einem Gerät. Das "Basis-System" ist komplett modular und kann, abhängig von der gewünschten Messaufgabe, mit unterschiedlichen Sensoren ausgestattet werden. Die ersten Modelle des SemDex A haben deshalb bereits erfolgreich den Asiatischen Markt erobert.      (mehr)

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