Skip navigation
Languages
ISIS sentronics latest press releases

Press Releases

04 / 2012 - Multipunkt-Messungen zur automatisierten Qualitätssicherung auf der CONTROL 2012

sentronics metrology stellt auf der CONTROL 2012 (Halle 3 Stand 3310) das Innenraum-Inspektionssystem ‚i-Dex tf’ mit diversen neuen Features vor. 

09 / 2011 - sentronics metrology with new i-Dex t model

Für die industrielle Inspektion bietet sentronics metrology ein Innenraum-Inspektionssystem mit dem erweiterten Spektrum der i-Dex Reihe.

08 / 2011 - Semi-automatic 3D inspection system for shape and surface measurements

Die sentronics metrology GmbH in Mannheim hat mit dem i-Dex ta ein neues Messsystem mit berührungsloser, optischer Metrologie für 3D-Mikro-Topographien und 2D-Rauheiten an der Oberfläche entwickelt.

11 / 2009 - sentronics metrology wins innovation award on the ICE in Munich

Auf der diesjährigen ICE (International Converting Exhibition) war sentronics metrology zum ersten Mal mit dem neuen Dünnschicht-Sensor StraDex p vertreten.

Syndicate content