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Pressemitteilungen

06 / 2013 - Messtechnik: Innovative Lösungen von sentronics metrology

Vermessung von Bohrungen in mechanischen Komponenten und Schichtdickenbestimmung von Folien mit dem Traversensystem t-Dex.

 

06 / 2013 - Vermessung von Bohrungen und Schichten

sentronics metrology, Anbieter von optischen, kontaktfrei arbeitenden Sensoren und Systemen für die industrielle Messtechnik, stellte auf der Control 2013 das neue Traversensystem T-Dex in den Mittelpunkt seines Messe-Auftritts.

06 / 2013 - Misst Folien von wenigen µm

Solo- und Verbundfolien – lackiert oder beschichtet – lassen sich schnell und genau mit dem neuen Traversensystem t-Dex von sentronics metrology vermessen. Auch Einzelschichtdicken sind damit bestimmbar.

06 / 2013 - Traversensystem t-Dex

Das Traversensystem t-Dex von sentronics metrology, Mannheim, dient zur berührungslosen Inprozessvermessung von Beschichtungen und Materialdicken von Einzel-, Doppel- und Verbundfolien.

 

05 / 2012 - 3D-Inspektionssystem i-Dex tf

Die Basistechnologie bei dem 3D-System i-Dex tf von sentronics metrology, Mannheim, ist eine Variante der optischen Weißlicht-Interferometrie. Dabei kommt der Sensor RayDex cr zum Einsatz.

04 / 2012 - Multipunkt-Messungen zur automatisierten Qualitätssicherung auf der CONTROL 2012

sentronics metrology stellt auf der CONTROL 2012 (Halle 3 Stand 3310) das Innenraum-Inspektionssystem ‚i-Dex tf’ mit diversen neuen Features vor. 

08 / 2011 - Halb-Automatisches 3D-Messsystem für Form- und Oberflächenmessungen

Die sentronics metrology GmbH in Mannheim hat mit dem i-Dex ta ein neues Messsystem mit berührungsloser, optischer Metrologie für 3D-Mikro-Topographien und 2D-Rauheiten an der Oberfläche entwickelt.

03 / 2011 - Halbautomatische Innenraum-Inspektionssysteme i-Dex f / tf

Basierend auf dem Komplettsystem i-Dex f, das Innenräume von Freiformobjekten dreidimensional erfasst, ist der 1 m hohe i-Dex tf die Tischversion mit einer auf 50 mm begrenzten Messobjekthöhe.

03 / 2011 - sentronics metrology präsentiert ‚i-Dex tf’ im neuen ‚Kompakt-Format’ auf der CONTROL 2011

sentronics metrology, innovativer Anbieter von optischen, kontaktfrei arbeitenden Sensoren für die industrielle Inspektion, stellt auf der CONTROL in Stuttgart (Halle 3 Stand 3310) erstmals den neuen ‚i-Dex tf’ – das weltweit erste halbautomatische Innenraum-Inspektionssystem – vor, welches seit kurzem auch als ‚Tischversion’ erhältlich ist.

02 / 2011 - Kompakter i-Dex tf zur kontaktfreien Innenraum-Inspektion

Als ›weltweit erstes halbautomatisches Innenraum-Inspektionssystem‹ stellt sentronics metrology, Anbieter optischer, kontaktfrei arbeitender Sensoren für die industrielle Inspektion, auf der Control (Halle 3, Stand 3310) erstmals den neuen ›i-Dex tf‹ vor, der seit kurzem auch als Tischversion erhältlich ist.

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