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StraDex f

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Für Schichten und Beschichtungen von wenigen µm bis 0.8 mm
StraDex f
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Für Schichten und Beschichtungen von wenigen µm bis 0.8 mm
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Sehr kompakte Bauweise
StraDex f

StraDex f

Optischer Sensor als berührungslose Alternative für Messungen von Schichten/ Beschichtungen und Profilen

  • Schichten und Beschichtungen von wenigen µm bis 0.8 mm
  • StraDex f2 – 80: Minimale Schichtdicke von 5 µm (Polymer) oder 2.5 µm (Silizium)
  • StraDex f24 – 300: Maximale Schichtdicke* von 0.8 mm (Polymer) oder 0.35 mm (Silizium)
  • Wiederholbarkeiten: 10/ 100 nm (je nach Model)
  • Max. Aufnahmerate: 4000 Messpunkte pro Sekunde
  • Sehr kompakte Bauweise
  • Bedienerfreundliche Software: TopoSpekt, TopoLine
  • Optional: Integrierbar an externe Traversierung oder Automatisierungsanlage

* Dickere Schichten sind messbar aber reduzieren deutlich die Aufnahmeraten