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涂层/ 薄膜

在采用现代化的非接触式Inline膜厚测量技术

通过现代化的薄膜制备方法,一方面人们希望能够尽可能经济、有效地利用原材料,另一方面却又希望不影响薄膜的保护效果。并且复合材料解决方案或涂层的使用也越来越常见,以便能够在生产过程中将其所具备的优势与薄膜的保护性能相结合。针对在生产中新工艺的研发以及质量安全,sentronics metrology开发了光学传感器系统,该系统能够应用于诸如:铸造设备、涂层/卷材处理装置或离线检测领域。

当与额定值发生偏差时,sentronics metrology传感器能够立即(甚至在生产过程中)识别出来并且将生产暂停。由于涂层厚度超出额定标准1 µm可能会造成数千欧元的经济损失,因此通过我们的多层测量和涂层测量技术将能够提高合格率并且降低薄膜生产成本。

sentronics metrology针对以下应用领域提供合适的解决方案: 

涂层:

  • 胶层厚度
  • 阻隔层
  • 功能性涂层
  • 有机硅涂层
  • 油膜涂层(例如:在铝材上)

薄膜/复合系统:

  • 多层流延膜生产线
  • 复合胶层厚度
  • 复合薄膜